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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 19: Scherfestigkeit (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.11.2003
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE | |
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Bezeichnung normen: STN EN 60749-19
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 92001
Ausgabedatum normen: 1.11.2003
SKU: NS-528300
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Änderung herausgegeben am 1.12.2010
Ausgewählte Ausführung: UNGÜLTIG
1.10.2003
UNGÜLTIG
1.2.2003
1.12.2011
1.1.2004
UNGÜLTIG
1.2.2003
1.2.2003
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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