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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 2: Niedriger Luftdruck (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.2.2003
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 89303
Ausgabedatum normen: 1.2.2003
SKU: NS-528301
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
1.8.2011
1.6.2010
1.10.2010
1.2.2011
1.2.2011
1.9.2013
Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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