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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 33: Der erhöhte Feuchtigkeitsbeständigkeit. Der Autoklav ohne elektrische Beanspruchung (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.10.2004
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-33
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 96500
Ausgabedatum normen: 1.10.2004
SKU: NS-528326
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
1.10.2004
1.3.2004
UNGÜLTIG
1.5.2007
1.5.2007
1.12.2011
UNGÜLTIG
1.9.2005
Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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