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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cycling
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 25: Zyklische Änderung der Temperatur (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.3.2004
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-25
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 93537
Ausgabedatum normen: 1.3.2004
SKU: NS-528313
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
1.10.2004
1.4.2011
1.6.2007
1.11.2003
1.11.2008
1.1.2009
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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