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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 37: Prüfverfahren für Fallenlassen der gesetzten Platten mit dem Beschleunigungsmesser (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.11.2008
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-37
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 107047
Ausgabedatum normen: 1.11.2008
SKU: NS-528331
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
1.8.2011
1.6.2010
1.10.2010
1.2.2011
1.2.2011
1.9.2013
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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