Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
STN EN 60749-35 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 35: Akustische Mikroskopie für Komponenten im Kunststoffkoffer (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.6.2007
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-35
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 103750
Ausgabedatum normen: 1.6.2007
SKU: NS-528329
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Wir empfehlen eine ähnliche Norm!!
ČSN EN 60749-35 (01.05.2007)Kategorie - ähnliche Normen:
Ähnliche Normen:
UNGÜLTIG
1.11.2003
UNGÜLTIG
1.10.2003
1.11.2003
UNGÜLTIG
1.4.2010
1.9.2009
1.12.2011
