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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mikroelektrogeräte - Teil 11: Prüfverfahren für die linearen Wärmeausdehnungskoeffizienten der freistehende Materialien für mikroelektromechanische Systeme. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.4.2014
Bezeichnung normen: ČSN EN 62047-11
Zeichen: 358775
Katalog-Nummer: 95058
Ausgabedatum normen: 1.4.2014
SKU: NS-161578
Zahl der Seiten: 32
Gewicht ca.: 96 g (0.21 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato norma popisuje zkušební metodu na měření lineárního koeficientu teplotní roztažnosti (CLTE) volně umístěných pevných (kovových, keramických, polymerních aj.) materiálů pro mikroelektromechanické systémy (MEMS) délek mezi 0,1 mm až 1 mm a šířek mezi 10 _m až 1 mm s tloušťkami od 0,1 _m do 1 mm. Jedná se o hlavní konstrukční materiály, které se používají pro MEMS, mikrostroje a další. Tato zkušební metoda se dá použít pro měření CLTE v teplotním rozsahu od pokojové teploty do 30 % teploty tavení materiálu
1.5.2007
1.5.2007
1.5.2011
1.3.2012
1.2.2012
1.12.2011
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Letzte Aktualisierung: 2024-11-04 (Zahl der Positionen: 2 209 323)
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