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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 16: Nachweis von Teilchen Trittschall (PIND) (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.10.2003
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-16
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 91657
Ausgabedatum normen: 1.10.2003
SKU: NS-528296
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
1.1.2004
1.10.2004
1.4.2011
1.6.2007
1.11.2003
1.11.2008
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Letzte Aktualisierung: 2024-12-22 (Zahl der Positionen: 2 217 000)
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