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STN EN 60749-23:2004/A1 (358799)
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 23: Das Leben bei hoher Temperatur ( IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.6.2011
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-23:2004/A1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 113338
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.6.2011
SKU: NS-528310
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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STN EN 60749-23 (358799)
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Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
Die Norm herausgegeben am 1.10.2004
Ausgewählte Ausführung: Englisch - Gedruckt (AUF ANFRAGE)
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