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Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 23: Das Leben bei hoher Temperatur ( IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.6.2011
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-23:2004/A1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 113338
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.6.2011
SKU: NS-528310
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
Die Norm herausgegeben am 1.10.2004
Ausgewählte Ausführung:
Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
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Letzte Aktualisierung: 2024-07-28 (Zahl der Positionen: 2 339 194)
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