Die Norm STN EN 60749-23 1.10.2004 Ansicht

STN EN 60749-23 (358799)

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life

Automatische name übersetzung:

Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 23: Lebenserwartung bei hoher Temperatur (IEC STN).



NORM herausgegeben am 1.10.2004


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitDer Verkauf wurde beendet
PreisAUFANFRAGE ohne MWS
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 60749-23
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 96505
Ausgabedatum normen: 1.10.2004
SKU: NS-528311
Zahl der Seiten: 29
Gewicht ca.: 87 g (0.19 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN

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