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STN EN 60749-1 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 1: Allgemeine (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.1.2004
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 92827
Ausgabedatum normen: 1.1.2004
SKU: NS-528287
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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