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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 1: Allgemeine (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.1.2004
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 92827
Ausgabedatum normen: 1.1.2004
SKU: NS-528287
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
1.10.2004
1.4.2011
1.6.2007
1.11.2003
1.11.2008
1.1.2009
Letzte Aktualisierung: 2024-07-28 (Zahl der Positionen: 2 339 194)
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