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Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-19: Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage.
Automatische name übersetzung:
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 6-19: Messverfahren für die Gehäuse-Verbiegung bei erhöhter Temperatur und die maximal zulässige Verbiegung.
NORM herausgegeben am 1.10.2010
Bezeichnung normen: DIN EN 60191-6-19:2010-10
Ausgabedatum normen: 1.10.2010
SKU: NS-236837
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen - Teil 6-19: Messverfahren für die Gehäuse-Verbiegung bei erhöhter Temperatur und die maximal zulässige Verbiegung.
1.3.2011
1.3.2011
1.8.2013
1.6.2001
1.1.2004
UNGÜLTIG
1.1.2010
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Letzte Aktualisierung: 2025-04-17 (Zahl der Positionen: 2 197 070)
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